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導(dǎo)致復(fù)合鹽霧試驗(yàn)箱故障的原因

發(fā)布日期:2022-09-22   瀏覽量:670
   復(fù)合鹽霧試驗(yàn)箱的試驗(yàn)是對(duì)比性試驗(yàn),試驗(yàn)結(jié)果不能預(yù)測(cè)在此環(huán)境條件下使用的同種金屬材料耐腐蝕性的長(zhǎng)期結(jié)果。但此方法仍然可提供暴露于與試驗(yàn)條件相類似的鹽污染環(huán)境下材料的相關(guān)性能方面的有價(jià)值信息。本設(shè)備試驗(yàn)與傳統(tǒng)加速腐蝕試驗(yàn),如中性鹽霧試驗(yàn)(NSS)、乙酸鹽霧試驗(yàn)(AASS)、銅加速乙酸鹽霧試驗(yàn)(CASS)相比,其優(yōu)點(diǎn)在于它能更好地再現(xiàn)發(fā)生在戶外鹽污染環(huán)境下的腐蝕。
  復(fù)合鹽霧試驗(yàn)箱的加速腐蝕試驗(yàn)適用于:金屬及其合金、金屬覆蓋層(陽(yáng)極性的和陰極性的)、轉(zhuǎn)化覆蓋層、陽(yáng)極氧化覆蓋層、金屬材料上的有機(jī)覆蓋層等。
  減少?gòu)?fù)合鹽霧試驗(yàn)箱的故障就要了解這些故障產(chǎn)產(chǎn)生原因;很多電子元件隨著工作時(shí)限延長(zhǎng)可能發(fā)生退化性的失效,而鹽霧試驗(yàn)箱的元件退化性失效所包括的范圍較廣,主要有如下幾個(gè)特征:某些參數(shù)隨著工作時(shí)間的延長(zhǎng)或工作環(huán)境的變動(dòng),其參數(shù)發(fā)生漂移,造成時(shí)而工作正常,時(shí)而工作不正常的情況。產(chǎn)生這些故障的原因主要為:
  1、由于負(fù)荷超過其內(nèi)部承受能力和使用保養(yǎng)不當(dāng)而產(chǎn)生的結(jié)果。
  2、電子元件失效普遍的是存在品質(zhì)與技術(shù)缺陷。
  3、環(huán)境因素作用,包括溫度、濕度、電壓及光照等。
  以上三種情況是導(dǎo)致復(fù)合鹽霧試驗(yàn)箱產(chǎn)生故障的主要原因,可以說電子元件的好壞直接關(guān)系到儀器設(shè)備的質(zhì)量?jī)?yōu)劣。
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